IGR Aktuell

Semiquantitative Analytik mit der REM-EDX

Da wir in der Regel im Niedervakuum arbeiten, können wir direkt die Originaloberflächen analysieren und nicht, wie bei vielen anderen Laboratorien üblich, durch "sputtern" mit Gold o.ä. beschichtete Oberflächen.*

Hierdurch können wir sehr exakte chemische Differenzierungen zwischen den einzelnen Analysenbereichen - sei es bei der Untersuchung von feinsten Schlieren im Glas oder bei der Unterscheidung von Glassplitter und Referenzglas - erhalten.

Auf dem folgenden Bild...

erkennen Sie zwei schwarz/dunkelgraue Bereiche. Diese Bereiche des VPSE-Bildes zeigen den zuvor im Flächenscan analysierten Messbereich. Sie stellen keine Markierung dar, sondern sind tatsächlich "abgetragene" Bereiche von der Probenoberfläche, d.h. sie waren auch auf der Probe nach der REM-Untersuchung sichtbar. Selbstverständlich ist dies proben- und untersuchungsspezifisch; die allermeisten Untersuchungen mittels REM-EDX verlaufen ohne solche Markierungen.

* Zur Erklärung:

Für eine Untersuchung im normalerweise genutzten Hochvakuum-REM stellt sich das Problem, dass Gesteine, und natürlich auch Glas, elektrische Isolatoren sind. Der Primärelektronenstrahl erzeugt jedoch einen gewissen Probenstrom, der abgeleitet werden muss. Trifft er nun von oben auf die Probe, kann er nicht durch das Glas auf den Probenträger abgeleitet werden. Wird er aber das nicht, erzeugt dies Bildstörungen in Form von Artefakten o.ä.. So lassen sich weder brauchbare Bilder noch zuverlässige Elementanalysen erzielen.

Deshalb werden Glas- und andere nichtleitende Proben inklusive des Objektträgers im Vorfeld durch eine künstliche Beschichtung mit einem Edelmetall (zumeist ist dies Gold) elektrisch leitfähig gemacht. Diese dünne Schicht Gold wird in einem separaten Gerät, dem sogenannten Sputter, in einer Atmosphäre aus Argon und unter Vakuum aufgebracht - oder fachsprachlich "gesputtert".

Göttingen, 16.08.2018