EDX Mapping
Da wir in der Regel im Niedervakuum arbeiten, können wir direkt die Originaloberflächen analysieren und nicht, wie bei vielen anderen Laboratorien üblich, durch „sputtern“ mit Gold o.ä. beschichtete Oberflächen.*
Hierdurch können wir sehr exakte chemische Differenzierungen zwischen den einzelnen Analysenbereichen – sei es bei der Untersuchung von feinsten Schlieren im Glas oder bei der Unterscheidung von Glassplitter und Referenzglas – erhalten. Selbst bei recht „verstreuten“ Stoffen ist eine Analyse möglich, hier hilft zumeist ein sogenanntes Mapping wie auf dem obigen Bild.
Bei einem solchen Mapping wird (nach einer generellen Analyse, welche Stoffe in dem zu überprüfenden Bereich überhaupt vorkommen) die Stoffverteilung visualisiert. Hierdurch ist eine bessere Differenzierung möglich, ob ein ungewöhnlicher Stoff (wie hier: Barium) im fraglichen Teil überhaupt, und wenn ja, wie gut verteilt vorkommt. Hierdurch lassen sich „Nester“ von „Bestandteilen“ unterscheiden.
* Zur Erklärung:
Für eine Untersuchung im normalerweise genutzten Hochvakuum-REM stellt sich das Problem, dass Gesteine, und natürlich auch Glas, elektrische Isolatoren sind. Der Primärelektronenstrahl erzeugt jedoch einen gewissen Probenstrom, der abgeleitet werden muss. Trifft er nun von oben auf die Probe, kann er nicht durch das Glas auf den Probenträger abgeleitet werden. Wird er aber das nicht, erzeugt dies Bildstörungen in Form von Artefakten o.ä.. So lassen sich weder brauchbare Bilder noch zuverlässige Elementanalysen erzielen.
Deshalb werden Glas- und andere nichtleitende Proben inklusive des Objektträgers im Vorfeld durch eine künstliche Beschichtung mit einem Edelmetall (zumeist ist dies Gold) elektrisch leitfähig gemacht. Diese dünne Schicht Gold wird in einem separaten Gerät, dem sogenannten Sputter, in einer Atmosphäre aus Argon und unter Vakuum aufgebracht – oder fachsprachlich „gesputtert“.