Erstmalig Analyse von Silicium in Glas und Rohstoffen mittels ICP-OES
Bisher war eine Bestimmung des Elements Silicium mittels ICP-OES nicht möglich, da bei dem Standardaufschlussverfahren nach DIN 51086-2 (zur Prüfung von oxidischen Roh- und Werkstoffen für Keramik, Glas und Glasuren – Teil 2), dem offenen Komplettaufschluss mit Flusssäure-Perchlorsäure-Salpetersäure, das Element Silicium als Siliciumtetrafluorid gasförmig entweicht und somit nicht mehr in der wässrigen Form, die für die Analytik benötigt wird, vorliegt.
Sonderaufschluss machts möglich
Dem IGR Institut für Glas- und Rohstofftechnologie GmbH in Göttingen ist es nun gelungen, eine eigene Methode zu entwickeln, die mittels Sonderaufschluss erstmalig die Bestimmung des Elements Silicium durch optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma ermöglicht.
Geprüftes und anerkanntes Verfahren
Dieses neue Verfahren wurde bei der letzten Systemüberwachung des IGR im November 2020 von der Deutschen Akkreditierungsstelle (DAkkS) geprüft und anerkannt. Der Geltungsbereich der Akkreditierung konnte somit um die Analyse des Elements Silicium in glasigen Systemen sowie siliciumhaltigen Rohstoffen mittels ICP-OES erweitert werden.
Damit ist das IGR, nach unserem Kenntnisstand, derzeit das einzige Prüflabor gemäß DIN EN ISO/IEC 17025:2018 von allen auf dem Markt befindlichen Prüf- und Kalibrierlaboratorien, welches eine Silicium-Analyse mittels ICP-OES, mit entsprechendem Sonderaufschluss, im akkreditierten Bereich anbieten kann.